Firma ICSPI została założona w 2007 roku. Kanadyjski producent z siedzibą w Kitchener-Waterloo dostarcza rewolucyjne systemy umożliwiające obrazowanie nanoskali szerokiemu gronu odbiorców.

ICSPI po prawie 10 latach badań i rozwoju na Uniwersytecie Waterloo skomercjalizowało pierwszy na świecie jednoukładowy mikroskop sił atomowych (AFM) – nGauge. Instrument zyskał niezwykłą popularność i zaufanie wśród badaczy, naukowców i inżynierów na uniwersytetach, instytutach rządowych oraz firmach na całym świecie. Mikroskop sił atomowych jest co najmniej o rząd wielkości tańszy od najnowocześniejszych AFM i nie ustępuje im szybkością, wytrzymałością czy rozdzielczością. Ciągłe prace nad urządzeniem i technologią przez firmę ICSPI umożliwiły powstanie nowych aparatów Redux AFM i Vertex AFM, które stanowią kolejny krok w udoskonalaniu tej techniki.

Wykwalifikowany zespół inżynierów najwyższego kalibru pracuje nad opatentowaną technologią CMOS-MEMS.

nGauge AFM

nGauge

Mierzone parametry: Topografia powierzchni, Chropowatość powierzchni (Ra), Grubość warstwObrazowanie fazowe (właściwości mechaniczne materiału), Wielkość cząstek
Technika: Mikroskopia sił atomowych
Przeznaczenie: Laboratorium
Redux

Redux

Mierzone parametry: Topografia powierzchni, Chropowatość powierzchni (Ra), Grubość warstw, Obrazowanie fazowe (właściwości mechaniczne materiału), Wielkość cząstek
Technika: Mikroskopia sił atomowych
Przeznaczenie: Laboratorium
Vertex AFM

Vertex

Mierzone parametry: Topografia powierzchni, Chropowatość powierzchni (Ra), Grubość warstw, Obrazowanie fazowe (właściwości mechaniczne materiału), Wielkość cząstek
Technika: Mikroskopia sił atomowych
Przeznaczenie: Pomiary on-line