Redux | Mikroskop sił atomowych
Mikroskop sił atomowych
Mikroskop sił atomowych Redux – urządzenie Kanadyjskiej firmy ICSPI Corp.
Służące do zaawansowanych pomiarów struktury powierzchni materiałów. Zasada działania aparatu Redux jest dokładnie taka sama jak w przypadku mikroskopu sił atomowych (AFM) nGauge, gdyż wykorzystuje on ten sam mikroukład elektromechaniczny.
Największą zaletą urządzenia jest jego pełna automatyzacja. Od momentu umieszczenia próbki na stoliku pomiarowym aparat wykonuje wszystkie operacje samodzielnie. Umożliwia nam to stolik pomiarowy, który porusza się w płaszczyźnie XY i umieszcza próbkę bezpośrednio pod chipem. Automatyzacja znacznie obniża ryzyko uszkodzenia chipa w trakcie badania.
Aparat posiada wbudowany mikroskop optyczny skierowany na chip, dzięki czemu na żywo możemy oglądać próbkę w trakcie pomiaru. Solidna obudowa znacznie ogranicza poziom interferencji z zewnątrz co pozwala osiągnąć poziom szumów rzędu 1,5 Å.
Zasada działania mikroskopów sił atomowych (ang. Atomic Force Microscope – AFM) polega na gromadzeniu danych o strukturze powierzchni, poprzez obserwację oddziaływań sondy skanującej określony obszar próbki. Reakcja sondy jest rejestrowana w taki sposób aby była znana wysokość każdego punktu skanowanej powierzchni charakteryzując w ten sposób jej topografię. W mikroskopii sił atomowych do fizycznego kontaktu z powierzchnią używa się sondy z bardzo małą końcówką, przypominającą igłę.
W mikroskopie sił atomowych nGauge sonda oraz wszystkie czujniki i skanery zostały zintegrowane w pojedynczym chipie o wymiarach 1 mm x 1 mm. Czas trwania pomiaru wynosi od 16 sekund do 20 minut, w zależności od wielkości obszaru skanowania oraz wybranej rozdzielczości.
| Skanowanie boczne | |
| Maksymalny obszar skanowania (XY) | 20 µm × 20 µm |
| Rozdzielczość skanera XY | <0,5 nm |
| Skanowanie pionowe | |
| Zasięg skanera (względem osi Z) | 10 µm |
| Poziom szumów (dynamiczny) | <0,5 nm rms lub 1,5 Å |
| Akwizycja danych – Szybkość skanowania | |
| Szybkie skanowanie (128 x 128 pikseli) | 16 sekund |
| Zwykłe skanowanie (256 x 256 pikseli) | 80 sekund |
| Wysoka rozdzielczość (512 x 512 pikseli) | 5 minut |
| Maksymalna rozdzielczość (1024 x 1024 pikseli) | 20 min |
| Specyfikacje urządzenia | |
| Komunikacja | USB |
| Zasilanie | 100-240 V |
| Maksymalna wielkość próbki | 100 mm x 50 mm x 20 mm |
| Maksymalny ciężar próbki | 1 kg |
- Inżynieria materiałowa,
- Elektrotechnika,
- Polimery,
- Nanotechnologia.