Topografia powierzchni
Mierzone parametry: Topografia powierzchni, Chropowatość powierzchni (Ra), Grubość warstwObrazowanie fazowe (właściwości mechaniczne materiału), Wielkość cząstek
Technika: Mikroskopia sił atomowych
Przeznaczenie: Laboratorium
Redux
Mierzone parametry: Topografia powierzchni, Chropowatość powierzchni (Ra), Grubość warstw, Obrazowanie fazowe (właściwości mechaniczne materiału), Wielkość cząstek
Technika: Mikroskopia sił atomowych
Przeznaczenie: Laboratorium
Vertex
Mierzone parametry: Topografia powierzchni, Chropowatość powierzchni (Ra), Grubość warstw, Obrazowanie fazowe (właściwości mechaniczne materiału), Wielkość cząstek
Technika: Mikroskopia sił atomowych
Przeznaczenie: Pomiary on-line