Przemysł chemiczny

Przemysł chemiczny jest jedną z kluczowych gałęzi przemysłu przetwórczego obejmującą wytwarzanie produktów z węglowodorów, drewna, kauczuku tłuszczu czy innych substancji organicznych, a także nieorganicznych takich jak minerały, rudy itd. oraz przetwarzanie gotowych półproduktów. Wśród produktów przemysłu chemicznego wyróżnić można nawozy, paliwa, tworzywa sztuczne oraz wyroby produkowane na mniejszą skalę, np. leki, kosmetyki, środki czystości. Ze względu na zastosowanie danego produktu istotne jest określenie wpływu temperatury na jego właściwości chemiczne i mechaniczne, zbadanie efektów cieplnych charakterystycznych dla danej substancji do analizy reakcji chemicznych czy przemian fazowych itd. Niezbędne informacje o wpływie temperatury na najróżniejsze parametry danego materiału dostarcza szereg metod analizy termicznej (DSC, STA, TMA, DMA).

Cennych informacji o produkcie dostarcza także analiza topografii powierzchni.

Mikroskop sił atomowych wyposażony jest w wiele trybów pozwalających na badanie próbek pod kątem ich właściwości mechanicznych, magnetycznych, elektrycznych i termoprzewodzących. Analiza topografii powierzchni swe zastosowanie znajduje w badaniach układów biologicznych, gdzie pozwala określić sposób wzajemnego oddziaływania poszczególnych substancji, co z kolei może być przydatne w projektowaniu leków, środków czystości czy kosmetyków.

Wykorzystywana aparatura:
mastersizer 3000+ ultra

Rodzina Mastersizer

Mierzone parametry: Wielkość cząstek
Zakres pomiarowy: 10nm do 3500µm
Dozwolone próbki: Mokre i suche
Technika: Dyfrakcja laserowa
Przeznaczenie: Laboratorium
parsum

Parsum

Mierzone parametry: Wielkość cząstek
Zakres pomiarowy: 50µm do 6000µm
Dozwolone próbki: Mokre, suche
Przeznaczenie: Pomiary on-line, in-line, at-line
Insitec

Insitec

Mierzone parametry: Wielkość cząstek
Zakres pomiarowy: 50µm do 6000µm
Dozwolone próbki: Mokre, suche
Przeznaczenie: Pomiary on-line, in-line, at-line
SOPAT

SOPAT

Mierzone parametry: Wielkość cząstek
Zakres pomiarowy: 0,5 – 50.000 µm
Dozwolone próbki: Mokre, suche, spray'e
Technika: Analiza obrazu
Przeznaczenie: Pomiary on-line, in-line, at-line
Aurora 1030W

Aurora 1030D

Mierzone parametry: TOC, TC, IC, NPOC
Zakres pomiarowy: 10 ppb – 30000 ppm
Technika: Utlenianie nadsiarczanem na gorąco (98 °C) i katalityczne spalanie wysokotemperaturowe
nGauge AFM

nGauge

Mierzone parametry: Topografia powierzchni, Chropowatość powierzchni (Ra), Grubość warstwObrazowanie fazowe (właściwości mechaniczne materiału), Wielkość cząstek
Technika: Mikroskopia sił atomowych
Przeznaczenie: Laboratorium
Redux

Redux

Mierzone parametry: Topografia powierzchni, Chropowatość powierzchni (Ra), Grubość warstw, Obrazowanie fazowe (właściwości mechaniczne materiału), Wielkość cząstek
Technika: Mikroskopia sił atomowych
Przeznaczenie: Laboratorium
Vertex AFM

Vertex

Mierzone parametry: Topografia powierzchni, Chropowatość powierzchni (Ra), Grubość warstw, Obrazowanie fazowe (właściwości mechaniczne materiału), Wielkość cząstek
Technika: Mikroskopia sił atomowych
Przeznaczenie: Pomiary on-line
NEXTA DSC

NEXTA DSC

Zastosowania: Analiza termiczna, charakterystyka procesów i parametrów termodynamicznych
Mierzone parametry: Przepływ ciepła
Zakres temperatur: od -150 °C do 725 °C
NEXTA STA

NEXTA STA

Zastosowania: Analiza termiczna, charakterystyka procesów i parametrów termodynamicznych
Mierzone parametry: Przepływ ciepła, zmiana masy próbki, zmiana temperatury próbki
Zakres temperatur: Temperatura pokojowa do 1500 °C
NEXTA TMA

NEXTA TMA

Zastosowania: Analiza termiczna, charakterystyka procesów i parametrów termodynamicznych
Mierzone parametry: Odkształcenie wywołane obciążeniem
Zakres temperatur: Temperatura pokojowa do 1500 °C
NEXTA DMA

NEXTA DMA

Zastosowania: Analiza termiczna, charakterystyka właściwości mechanicznych i lepkosprężystych
Mierzone parametry: Moduł tłumienia drgań wywołany oscylacyjnym obciążeniem
Zakres temperatur: od -150 °C do 600 °C

MicroNIR OnSite-W

Technika: Spektroskopia w bliskiej podczerwieni (NIRs)
Przeznaczenie: Potwierdzenie tożsamości surowców (RMID), analiza stężenia konkretnego związku w mieszaninie

MicroNIR PAT

Mierzone parametry: Unikalne dla każdego procesu (ilościowo lub jakościowo)
Technika: Spektroskopia w bliskiej podczerwieni (NIRs)
Przeznaczenie: Badania i rozwój, produkcja