Polimery, gumy, plastiki

Charakteryzacja polimerów jest istotną gałęzią  nauki  o polimerach, zwykle używaną do przewidywania ich właściwości, od surowego materiału do gotowego produktu, z uwzględnieniem szybkości rozkładu i wpływu tego procesu na środowisko.

Podstawowe znaczenie dla charakterystyki materiałów ma określenie parametrów termicznych, takich jak temperatura topnienia, zeszklenia, rozkładu, temperatura określonych ubytków masy czy przemian polimorficznych. Istotne dane dostarczają także badania pozwalające na wyznaczenie ciepła właściwego, ciepła topnienia czy krystalizacji. Parametry te często decydują o jakości produktu. Uzyskanie szeregu informacji na temat zmian wybranych właściwości substancji pod wpływem zmieniającej się w kontrolowany sposób temperatury dostarcza szeroki wachlarz metod analizy termicznej.  Na pełną charakterystykę polimerów pozwala rodzina instrumentów NEXTA firmy HITACHI.

Warto jest także przyjrzeć się topograficznym obrazom wybranych powierzchni. Analiza topograficzna wykorzystywana jest m.in. w badaniach procesów obróbkowych do odzwierciedlenia procesu wytwarzania, optymalizacji procesów obróbki, doboru i weryfikacji narzędzi skrawających oraz ich zużycia. Ponadto metoda ta wykorzystywana jest do inspekcji szkieł kontaktowych, analizy protez czy innych tworzyw, a także do badania powierzchni zębów i włosów. Analizując topografię powierzchni można również określić właściwości adsorpcyjne danego materiału.

Dzięki oferowanym przez nas aparatom można:

  • Wyznaczyć bezwzględną masę cząsteczkową, rozkład mas cząsteczkowych, stopień rozgałęzienia i skład kopolimerów za pomocą techniki GPC/SEC.
  • Wyznaczyć strukturę cząsteczkową za pomocą reometru rotacyjnego oraz właściwości procesowe za pomocą reometru kapilarnego
  • Symulować naprężenia, temperaturę i ciśnienie występujące w czasie obróbki polimeru
  • Zmierzyć wielkość cząstek nano oraz mikro
  • Stworzyć „obraz fazowy” powierzchni kompozytu, który dostarczy jakościowe informacje o właściwości mechanicznych powierzchni przy pomocy mikroskopu sił atomowych
  • Określić stabilność termiczną oraz chemiczną badanych materiałów
  • Monitorować procesy polimeryzacji w czasie rzeczywistym

Przedstawione poniżej produkty spełniają wiele wymagań charakteryzujących sektor przemysłu polimerowego, gumowego i kompozytowego. Zgodność z wymogami RoHS jest doskonałym przykładem zaangażowania w regulacje środowiskowe, spójność produktu i recykling tworzyw sztucznych.

Kolejnym przykładem rozwiązań wpływających na jakość i bezpieczeństwo produktu jest kalibracja ADPOL, która umożliwia analizę elementarną dodatków i wypełniaczy, zapewniając zgodność z wymaganiami REACH.

Wykorzystywana aparatura:
parsum

Parsum

Mierzone parametry: Wielkość cząstek
Zakres pomiarowy: 50µm do 6000µm
Dozwolone próbki: Mokre, suche
Przeznaczenie: Pomiary on-line, in-line, at-line
Insitec

Insitec

Mierzone parametry: Wielkość cząstek
Zakres pomiarowy: 50µm do 6000µm
Dozwolone próbki: Mokre, suche
Przeznaczenie: Pomiary on-line, in-line, at-line
SOPAT

SOPAT

Mierzone parametry: Wielkość cząstek
Zakres pomiarowy: 0,5 – 50.000 µm
Dozwolone próbki: Mokre, suche, spray'e
Technika: Analiza obrazu
Przeznaczenie: Pomiary on-line, in-line, at-line
Chirascan

Chirascan

Mierzone parametry:

Analiza strukturalna: struktura drugo- i trzeciorzędowa
Stabilność: termiczna i chemiczna

Zakres temperatur: 20 - 90°C
Wydajność: Skan spektrum dalekiego UV – 1:40 min
nGauge AFM

nGauge

Mierzone parametry: Topografia powierzchni, Chropowatość powierzchni (Ra), Grubość warstwObrazowanie fazowe (właściwości mechaniczne materiału), Wielkość cząstek
Technika: Mikroskopia sił atomowych
Przeznaczenie: Laboratorium
Redux

Redux

Mierzone parametry: Topografia powierzchni, Chropowatość powierzchni (Ra), Grubość warstw, Obrazowanie fazowe (właściwości mechaniczne materiału), Wielkość cząstek
Technika: Mikroskopia sił atomowych
Przeznaczenie: Laboratorium
Vertex AFM

Vertex

Mierzone parametry: Topografia powierzchni, Chropowatość powierzchni (Ra), Grubość warstw, Obrazowanie fazowe (właściwości mechaniczne materiału), Wielkość cząstek
Technika: Mikroskopia sił atomowych
Przeznaczenie: Pomiary on-line
NEXTA DSC

NEXTA DSC

Zastosowania: Analiza termiczna, charakterystyka procesów i parametrów termodynamicznych
Mierzone parametry: Przepływ ciepła
Zakres temperatur: od -150 °C do 725 °C
NEXTA STA

NEXTA STA

Zastosowania: Analiza termiczna, charakterystyka procesów i parametrów termodynamicznych
Mierzone parametry: Przepływ ciepła, zmiana masy próbki, zmiana temperatury próbki
Zakres temperatur: Temperatura pokojowa do 1500 °C
NEXTA TMA

NEXTA TMA

Zastosowania: Analiza termiczna, charakterystyka procesów i parametrów termodynamicznych
Mierzone parametry: Odkształcenie wywołane obciążeniem
Zakres temperatur: Temperatura pokojowa do 1500 °C
NEXTA DMA

NEXTA DMA

Zastosowania: Analiza termiczna, charakterystyka właściwości mechanicznych i lepkosprężystych
Mierzone parametry: Moduł tłumienia drgań wywołany oscylacyjnym obciążeniem
Zakres temperatur: od -150 °C do 600 °C

MicroNIR OnSite-W

Technika: Spektroskopia w bliskiej podczerwieni (NIRs)
Przeznaczenie: Potwierdzenie tożsamości surowców (RMID), analiza stężenia konkretnego związku w mieszaninie

MicroNIR PAT

Mierzone parametry: Unikalne dla każdego procesu (ilościowo lub jakościowo)
Technika: Spektroskopia w bliskiej podczerwieni (NIRs)
Przeznaczenie: Badania i rozwój, produkcja
AZURA Knauer SEC

AZURA SEC

Ciśnienie do: 300 bar/ 400 bar/ 862 bar
System pomp: Izokratyczny
Zakres przepływu do: 10 ml/min lub 50 ml/min