Ceramika i metalurgia

W przemyśle ceramicznym niezwykle istotna jest wielkość cząstek surowców, gdyż to ona determinuje jakość powierzchni gotowego produktu. Analiza wielkości cząstek suchych lub mokrych dyspersji w czasie rzeczywistym lub w laboratorium umożliwia oddzielenie materiału pożądanego od nieprzydatnego w celu uzyskania optymalnych warunków wypalania przy jak najniższych kosztach.

Obróbka ceramiki obejmuje szereg etapów (np. wytwarzanie proszku, mielenie, mieszanie, granulowanie, zagęszczanie, spiekanie, wprowadzanie dodatków) i każdy z nich może on mieć wpływ na końcowe właściwości ceramiki.

W przypadku zarówno ceramiiki jak i metalurgii istosny jest wpływ temperatury na właściwości chemiczne i mechaniczne daneo materiału.

Niezbędnych informacji o zależności poszczególnych parametrów charakteryzujących daną substancję od temperatury dostarcza zespół metod analizy termicznej. W badaniach ceramiki i metalurgii metody analizy termicznej umożliwiają wykorzystanie efektów cieplnych charakterystycznych dla danej substancji do analizy reakcji chemicznych czy przemian fazowych przy modyfikacji składu wyjściowych mieszanek ceramicznych czy też metali do różnych zastosowań, a także do identyfikacji danego materiału w oparciu o znane diagramy fazowe. Kompleksową charakterystykę materiału odstarcza aparatura rodziny NEXTA firmy HITACHI.

Skuteczną techniką wykorzystywaną do badania jakości, a także mechanizmów degradacji powierzchni ceramiki jest mikroskopia sił atomowych. Mikroskopy generują obraz 3D badanej powierzchni w skali nanometrycznej przy względnej łatwości interpretacji wyników.

Wykorzystywana aparatura:

Rodzina Mastersizer

Mierzone parametry: Wielkość cząstek

Zakres pomiarowy: 10nm do 3500µm

Dozwolone próbki: Mokre i suche

Technika: Dyfrakcja laserowa

Przeznaczenie: Laboratorium

Więcej informacji

nGauge

Mierzone parametry: Topografia powierzchni, Chropowatość powierzchni (Ra), Grubość warstwObrazowanie fazowe (właściwości mechaniczne materiału), Wielkość cząstek

Technika: Mikroskopia sił atomowych

Przeznaczenie: Laboratorium

Więcej informacji

Redux

Mierzone parametry: Topografia powierzchni, Chropowatość powierzchni (Ra), Grubość warstw, Obrazowanie fazowe (właściwości mechaniczne materiału), Wielkość cząstek

Technika: Mikroskopia sił atomowych

Przeznaczenie: Laboratorium

Więcej informacji

Vertex

Mierzone parametry: Topografia powierzchni, Chropowatość powierzchni (Ra), Grubość warstw, Obrazowanie fazowe (właściwości mechaniczne materiału), Wielkość cząstek

Technika: Mikroskopia sił atomowych

Przeznaczenie: Pomiary on-line

Więcej informacji